CMI563表面銅厚測量儀膜厚儀
深圳市方源儀器有限公司供應(yīng)的CMI563表面銅厚測量儀膜厚儀，是一款靈便易用的手持式測厚儀，它集快速**、價格合理、 質(zhì)量可靠等優(yōu)勢于一體，專為測量剛性及柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔厚度設(shè)計。
CMI563表面銅厚測量儀膜厚儀產(chǎn)品性價比：
表面銅厚測量儀- CMI563采用微電阻測試技術(shù)，提供了準(zhǔn)確和**測量表面銅銅厚（包括覆銅板、化學(xué)銅和電鍍銅板）的方法。
CMI563表面銅厚測量儀采用了市場上*為先進(jìn)的測試技術(shù)，印刷電路板背面銅層不會對這款測厚儀測量結(jié)果產(chǎn)生影響。
**性的CMI563銅箔測厚儀配置探針可由用戶自行更換的SRP-4探頭。相對于整個探頭的更換，更換探針更為方便和經(jīng)濟(jì)。
表面銅厚測量儀- CMI563可由用戶選擇所測試的銅箔類型，既化學(xué)銅或電鍍銅；甚至無需用戶校準(zhǔn)，即可測量線形銅箔厚度。這款測厚儀配有NIST（美國國家標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)學(xué)會）認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片，不同厚度供您選購。
CMI563表面銅厚測量儀膜厚儀產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)：
銅厚測量范圍：
非電鍍銅：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm),
電鍍銅：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
線形銅可測線寬范圍：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
準(zhǔn)確度：±1% (±0.1 μm)參考標(biāo)準(zhǔn)片
**度：非電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %；
電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 %
分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm
接口：RS-232串行接口，波特率可調(diào)，用于下載至打印機(jī)或計算機(jī)
顯示：4數(shù)位LCD液晶顯示，2數(shù)位存儲位置，字符高1/2英寸（1.27厘米）
存儲量：13,500條讀數(shù)
統(tǒng)計顯示：測量個數(shù)，標(biāo)準(zhǔn)差，平均值，*大值，*小值。
單位：通過一個按鍵實(shí)現(xiàn)英制和公制的自動轉(zhuǎn)換
電池：9伏電池
電池壽命：65小時連續(xù)使用
重量：9盎司（0.26千克）包括電池
尺寸：5 7/8英寸(長)×3 1/8英寸(寬)×1 3/16英寸(高) （14.9×7.94×3.02厘米）
另有耗材——面銅測厚儀探頭銷售。
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