CMI165手持式面銅測(cè)厚儀膜厚儀
面銅測(cè)量的結(jié)果往往受到樣品溫度的影響。CMI165手持式面銅測(cè)厚儀膜厚儀的溫度補(bǔ)償功能解決了這個(gè)問(wèn)題，確保測(cè)量結(jié)果**而不受銅箔溫度的影響。CMI165手持式面銅測(cè)厚儀膜厚儀這款多用途的手持式測(cè)厚儀配有探針?lè)雷o(hù)罩，確保探針的耐用性即使在惡劣的使用條件下也可以照常進(jìn)行檢測(cè)。
CMI165手持式面銅測(cè)厚儀膜厚儀規(guī)格參數(shù)：
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利用微電阻原理通過(guò)四針式探頭進(jìn)行銅
厚測(cè)量，符合EN 14571測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
厚度測(cè)量范圍
.化學(xué)銅:(0.25一12.7) um,
(0.01-0.5) mils
.電鍍銅:(2.0-254) Nm,
(0.1一10) mils
儀器再現(xiàn)性:a二0.08 Nm at 20 Nm
(0.003 mils at 0.79 mils)
強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能，包括數(shù)據(jù)記
錄、平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差和上下限提醒功
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數(shù)據(jù)顯示單位可選擇mils, um或。
儀器的操作界面有英文和簡(jiǎn)體中文兩種
語(yǔ)言供選擇
儀器無(wú)需特殊規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)片，同樣可實(shí)現(xiàn)
蝕刻后的線型銅箔的厚度測(cè)量，可測(cè)線
寬范圍低至204 um (8 mils)
儀器可以儲(chǔ)存9690條檢測(cè)結(jié)果(測(cè)試日
期時(shí)間可自行設(shè)定)
測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)USB2.0實(shí)現(xiàn)高速傳輸，也
可保存為excel格式文件
儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn)
客戶可根據(jù)不同應(yīng)用靈活設(shè)置儀器
用戶可選擇固定或連續(xù)測(cè)量模式
儀器使用普通AA電池供電
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CMI165手持式面銅測(cè)厚儀膜厚儀探頭優(yōu)勢(shì)：
牛津儀器**
檢測(cè)探頭SRP-T1
SRP-T1探針可由客戶自行替換，替換
后無(wú)需再校準(zhǔn)即可使用
備用的SRP-T1探頭減少了用戶設(shè)備的
停工期
探針的照明功能有助于線型銅箔檢測(cè)時(shí)的準(zhǔn)確定位
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